自动耦合

多通道光纤自动耦合系统

面向OCS内部光纤透镜与准直器的装调需求，通过光功率反馈完成精密对准，优化光学耦合效率，为多端口光路的一致性提供保障。可根据器件结构、通道布局及生产工艺定制耦合夹具与自动化流程。

自动清检

光纤端面自动检测与清洁工作站

集成端面定位、缺陷检测、自动清洁和复检功能，形成连续的端口清检流程。针对OCS高密度、多端口的结构特点，可定制接口适配与运动机构，减少人工操作，提高批量清检效率。

端面检测

AutoGet MT 光纤端面检测仪

检测OCS光连接端面的脏污、划痕及其他缺陷，辅助识别影响插损、回损和连接稳定性的端面问题。可根据连接器类型配置适配接口，满足研发检查与生产检测需求。

端面清洁

Offsoon Pro 光纤端面清洁机

采用非接触式气液清洁方式，去除光纤端面的颗粒、油污等污染物，降低端面污染对光学性能测试的影响。可独立使用，也可集成至自动化工作站，实现清洁与检测联动。

插入损耗测试

400通道阵列光源＋400通道阵列光功率计

通过多通道光源与功率同步采集，对OCS当前路由配置下的多条光路进行并行插损测试，最高支持400通道并行测量。结合参考校准与多连接器装夹方案，减少逐通道测量及重复插拔时间，提高大规模端口测试效率。

通过切换OCS路由配置，可进一步完成不同输入、输出组合的插损测量，分析通道损耗及一致性。

回波损耗测试

RLM 插回损测试仪

采用基于OTDR原理的回损测试方法，评估OCS光路的反射特性。根据测试配置，可开展指定反射事件的回损测量及整条光路的总回损评估，辅助分析连接端口与内部光路的反射问题。

偏振相关损耗测试

TLS 可调谐光源＋PPC 穆勒矩阵偏振控制器＋光功率计

通过产生已知偏振态并测量对应的输出光功率，结合穆勒矩阵算法计算OCS光路的偏振相关损耗（PDL）。配合可调谐光源，可进一步分析不同波长下的PDL变化，评估光路对输入偏振变化的敏感程度。

波长相关损耗测试

WST 波长扫描系统

由可调谐光源与光功率采集模块组成，在设定波段内测量OCS光路的插损随波长变化曲线，评估工作带宽内的损耗平坦度与通道一致性。可结合偏振控制模块，开展波长与偏振相关的综合测试。

长期稳定性测试

ERT 环境可靠性测试系统

对OCS光路进行持续监测，记录插损、回损等参数随时间的变化，评估长时间运行下的光学性能稳定性。配合温度试验设备，可分析环境温度变化对光路损耗及连接稳定性的影响。

方案优势

· 400通道并行测量，提高量产测试效率

阵列光源与阵列光功率计支持多通道并行插损测量，减少逐通道采集时间，适配高端口密度OCS的批量测试需求。

· 覆盖关键光学指标，贯通研发与制造

整合插损、回损、串扰、PDL、波长相关损耗及可靠性测试，并延伸至自动耦合和端面清检，覆盖从装调到成品验证的主要环节。

· 灵活定制，适配不同端口与系统规模

可根据OCS端口数量、接口形式及测试架构配置仪器。支持MPO高密度接口、集成功率监控的光开关、内置功率计的衰减器及多通道偏振控制器等定制方案。

· 模块化集成，便于自动化系统搭建

基于模块化测试平台组合光源、功率计、光开关、衰减器和偏振控制器，减少分立仪器布置与连接复杂度，便于构建适配客户工艺的自动测试系统。