· 多通道 FA 光纤阵列几何测量

· V 槽基板槽深与角度测量

· 高密度 MT 插芯及相关组件测量

· 光模块来料检验与无源光器件制造

一机多用，多种器件轻松测

从 FA 光纤阵列的纤芯间距，到 V 槽基板的槽深与角度，再到高密度 MT 插芯的导向孔偏移，不同光学组件往往具有不同的几何测量需求。

GetPitch 通过更换适配夹具，可覆盖 FA、MT、V 槽基板等多种器件的几何测量场景，减少多类测量任务对不同专用设备的依赖，为生产检测提供更加灵活的配置选择。

精密量测，微小偏差清晰掌握

在高密度多芯连接场景中，几何尺寸的细微变化也值得关注。

GetPitch 搭载纳米级工业激光尺，实现 X/Y 轴绝对闭环位置反馈，并结合高像素工业相机进行测量。产品资料介绍其具备 0.01 μm 级微观几何量测能力，为纤芯间距及相关几何特征的精密检测提供支持。

无论是研发验证还是批量生产质量检查，高精度的测量与位置反馈能力，都有助于为器件尺寸一致性评价提供可靠依据。

自动对焦，助力高效检测

精密测量不仅要关注结果，也需要兼顾实际生产中的操作效率。

GetPitch 采用自动对焦设计，产品标称对焦时间＜3s，可减少操作人员反复手动调焦的步骤，帮助简化测量准备过程。

结合不同被测件的测量配方与夹具配置，设备能够适应多类光学组件的检测需求，为生产现场提供更加便捷的测量体验。

软件智能，测量数据一目了然

高精度测量，也需要清晰直观的数据呈现。

GetPitch 配备智能测量软件，采用高对比度工业风格界面，可显示测量数据、坐标信息及 Pass/Fail 判定结果，便于操作人员查看检测状态。

软件将实时测量界面与制程统计界面（SPC）分开设计，既方便操作员关注当前测量，也便于品质人员开展 CPK、极差等制程数据分析。

搭配数据保存功能，让测量结果更加便于记录与后续追溯。

规格参数 / Specifications

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