维度端见EndFace
维度端见是维度科技旗下专注于光纤端面检测与精密测量的子品牌。面向AI算力基础设施、高速光通信及先进光器件制造,围绕高密度光连接、光纤阵列、硅光耦合及多芯光纤器件等应用需求,提供光纤端面检测、清洁验证与关键几何参数测量解决方案。
从传统光纤连接器到新一代高速光互连,从单芯器件到高密度多芯阵列,端见以光学成像、智能检测和精密测量技术,帮助客户识别端面状态、掌握关键几何特性,为高质量光连接与稳定可靠的光传输提供检测支持。
值得信赖的光纤方案
如何生产高质量高可靠的连接器,Dimension能够提供全系列的光纤端面检测清洁解决方案,有效的提升产品质量及可靠性。

XPO / 1.6T光模块与新型连接器检测
面向高速率、高密度光互连的质量控制
随着新一代光互连方案向800G、1.6T及更高速率演进,光模块与连接器对光学性能、端口密度和制造一致性提出了更高要求。面对XPO、NPO等新型光互连形态,以及高密度多芯连接器的应用,端见检测设备根据器件结构与检测要求配置完整接口群及对应测量方式,提供端面成像、缺陷识别,帮助客户检查端面污染、划伤及其他影响连接质量的异常。

CPO/OCS与硅光器件检测方案
面向光电集成与新型光交换架构
CPO、NPO及OCS等技术路线推动光互连从传统可插拔模块向更紧密的光电集成与灵活光交换架构发展。硅光芯片、光纤阵列及高密度光接口在其中承担重要的光连接与耦合功能,对光纤端面状态、阵列位置。关系及连接一致性提出了更精细的要求。端见围绕硅光器件、光纤阵列及光交换设备的检测需求,提供端面成像与精密几何测量相关方案,支持对光纤端面状态、纤芯位置关系及连接器关键几何特性进行检测与分析。

FAU光纤阵列高效可靠检测
从单芯连接到高密度阵列,关注关键几何特性
随着光纤阵列(FAU)在硅光耦合、光引擎及高密度光互连中的应用不断拓展,光纤排列位置、纤芯间距、端面角度及端面形貌等因素,成为影响器件装配与光学耦合一致性的重要环节。端见面向FAU及多芯光纤连接器的精密检测需求,提供纤芯距测量、端面几何特性测量及多芯器件端面检测方案,帮助客户识别阵列位置偏差、端面状态异常及关键几何参数差异,为光纤阵列及高密度连接器的研发、装配和质量验证提供测量依据。

数据中心与算力中心运维检测
面向规模化运维与高效质量管理
AI算力基础设施快速发展,带动数据中心光模块、光连接器及光交换设备需求增长。面对大批量、多规格和高一致性的巡检要求,传统设备在适应性、效率、数据追溯等方面面临挑战。端见可根据需求配置图像采集、智能检测、网络数据传输及现场调节控制,实现检测流程与生产系统的衔接,可构建检测、清洁、复检相结合的质量控制流程,帮助客户提升检测效率、规范检测过程并加强质量数据管理。
寻找更适合您的端面检测设备
定期检测和清洁光纤端面可以保证信号传输质量、预防连接故障、提高系统性能。





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