产品概述

OF-100 为维度科技新研制的光频域反射仪，基于线性调频相干探测原理，通过拍频信号 FFT 变换得到距离域反射曲线，实现近乎无盲区、亚毫米级空间分辨，可同时完成事件定位、回波损耗 RL、插入损耗 IL、光程长度测量；覆盖单芯、多芯 MPO/MT、光组件、硅光、CPO 封装内部光路检测，为研发、来料检验、失效分析提供完整测试解决方案。

主要优势

• 一体化内置光学参考干涉腔

• 超高空间分辨率&近零盲区

• 回损测试具有 80dB 的高动态范围

• 支持跨多个链路/端口的批量采集与对比分析；支持机架式集成

• 通过 OSW 端口扫描实现多通道自动测量

• 可离线分析曲线，支持任意区域局部放大分析

主要应用

• 短光链路反射及故障定位

• 高速光互连器件检测

• 硅光/CPO/共封装光学封装分析

• 特种光组件与跳线研发验证

生产来料检验，可靠性验证

真正零测试盲区，亚毫米级超高空间分辨

标准 30m 量程下采样分辨率可达 10μm；70m 量程 20μm；

从仪器输出端面开始即可测量，无传统 OTDR 固有的起始盲区，可以分辨器件内部距离极近的耦合界面、相邻连接器反射点，实现“看透器件内部光路”的能力。

超高背向散射灵敏度与大动态范围

背向散射灵敏度可达 -130dB，回损动态范围最高 80dB；

可同时捕捉微弱瑞利散射基底与强菲涅尔反射峰；

插损测量分辨率 0.05dB，单端测试即可获取沿光纤分布式 IL、RL。

专业分析软件平台

可视化距离-反射曲线，自动识别宏弯、熔接点、连接器、断点各类事件；

用户自定义阈值，实现自动 Pass/Fail 判据，用于组件批量检验；

支持数据导出，提供自动化接口，适配实验室与产线自动化测试；

可同时解析反射、损耗等多维度曲线视图；

可离线分析曲线，支持任意区域局部放大分析。